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叶面积测量仪研究玉米穗三叶与QTL定位

来源： http://m.polyscience.com.cn 　类别：技术文章　更新时间：2014-12-02　阅读次

      高产是玉米育种永恒追求的目标，这也说明对于其产量的影响是有多重因素构成的。果穗产量性状是其直接表现。叶片是玉米光合作用的主要器官，叶面积是决定光合产物的一个重要指标，对于产量形成具有重要的作用。通过叶面积测量仪研究表明，玉米穗三叶面积与玉米单株产量呈显著的正相关，其中穗位叶面积与产量关系最为密切。
　　
      叶面积测量仪研究玉米穗三叶面积，尤其是穗位叶面积的遗传机制，对高效选育高产、优质、抗病、广适玉米新杂交种具有重要意义。在农作物叶面积QTL定位方面，水稻上研究比较多，尤其是对水稻剑叶形状和大小进行了大量的QTL定位工作。而叶面积仪在玉米叶面积QTL的研究中，穗位叶面积相关的报道比较少。
　　
      对F2单株材料穗位叶面积进行正态分布检验，叶面积测量仪统计量可知：从变幅和变异系数看，群体穗位叶面积性状的变异较大；从偏度和峰值看，叶面积未显著偏离正态分布，符合QTL定位的基本要求，可以进行QTL检测。
　　
      农作物的株高、叶面积测量仪的测定以及产量等农艺性状属于数量性状，自20世纪80年代以来，分子标记技术以及QTL定位方法的快速发展为复杂数量性状的研究提供了强有力的手段。随着分子遗传学的迅猛发展，国内外已经构建了不少主要农作物（水稻、玉米、小麦）的分子标记连锁图谱，并结合叶面积测量仪的仪器应用为农艺性状的QTL定位和遗传分析打下了基础�！　�